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調(diào)頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置哪家好
串聯(lián)諧振實(shí)驗(yàn)是電力設(shè)備絕緣強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)的有效典范。電力設(shè)備在運(yùn)行中,絕緣長期受著電場、溫度和機(jī)械振動的作用會逐漸發(fā)生劣化,整體劣化和部分劣化,慢慢形成缺陷。例如由于局部地方電場比較集中或者局部絕緣比較脆弱就存在局部的缺陷。
在各種電力預(yù)防性實(shí)驗(yàn)之中,各有所長,也都有著自身的一些缺陷,反應(yīng)出一些絕緣的狀況,但其他試驗(yàn)方法的試驗(yàn)電壓往往都低于電力設(shè)備的工作電壓,作為安全運(yùn)行的保證還不夠有力。
直流耐壓試驗(yàn)雖然試驗(yàn)電壓較高,能發(fā)現(xiàn)一些絕緣的弱點(diǎn),但是由于電力設(shè)備的絕緣大多數(shù)都是組合電介質(zhì),在直流電壓的作用下,其電壓是按電阻分布的,所以交流電力設(shè)備在交流電場下的弱點(diǎn)使用直流作實(shí)驗(yàn)就不一定能夠發(fā)現(xiàn),例如發(fā)電機(jī)的槽部缺陷在直流下就不易被發(fā)現(xiàn)。
電力串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)符合電力設(shè)備在運(yùn)行中所承受的電氣狀況,同時交流耐壓試驗(yàn)電壓一般比運(yùn)行電壓高,因此通過實(shí)驗(yàn)后,設(shè)備有較大的安全裕度,所以這種試驗(yàn)已成為保證安全運(yùn)行的一個重要手段。
但是由于串聯(lián)諧振試驗(yàn)所采用的試驗(yàn)電壓比運(yùn)行電壓高的多,過高的電壓會使絕緣介質(zhì)損失增大、發(fā)熱、放電,會加速絕緣缺陷的發(fā)展,因此,某種意義上來講,串聯(lián)諧振實(shí)驗(yàn)是一種破壞性試驗(yàn)。
所以在進(jìn)行串聯(lián)諧振試驗(yàn)之前,必須預(yù)先進(jìn)行各項(xiàng)非破壞性試驗(yàn),如測量絕緣電阻、吸收比、介質(zhì)損耗因素、直流泄露電流等,對各項(xiàng)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行綜合分析,以決定該設(shè)備是否受潮或有缺陷。
若發(fā)現(xiàn)已存在問題,需預(yù)先進(jìn)行處理,待缺陷消除后,再進(jìn)行串聯(lián)諧振試驗(yàn),以免在實(shí)驗(yàn)過程中,發(fā)生絕緣擊穿,擴(kuò)大絕緣缺陷,延長檢修時間,增加檢修工作量。